薄膜电容器的电晕问题：起因、影响因素与解决办法
title: 薄膜电容器的电晕问题：起因、影响因素与解决办法 date: 2026-07-17 category: 技术研究 tags: [薄膜电容器, 电晕, 局部放电, 金属化膜, 可靠性] 薄膜电容器的电晕问题：起因、影响因素与解决办法 引言 电晕（Corona）是薄膜电容器在高电场强度下最常见的局部放电现象之一，也是制约电容器长期可靠性的关键因素。在金属化聚丙烯薄膜（MKP/MKT）电容器中，电晕不仅会导致容量衰减、介质损耗增加，严重时还会引发早期失效，特别是在高频、高压、高温高湿等苛刻工况下更为突出。 本文从电晕的物理机理出发，系统分析其在薄膜电容器中的表现形式、影响因素，并结合工程...